致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機 全自動化檢測邊射型激光半導體芯片 高精密及高容量載具設計 自動光纖耦合測試對位設計（Auto-alignment） AOI輔助定位，加速測試時間 共用載具設計可搭配燒機測試

致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統 可同時檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴膜晶圓（檢測區域達8吋范圍 ） 可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目 上片后晶圓自動對位機制

Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統 58635-L光電組件晶圓LIV點測系統 58635-N光電組件近場量測點測系統 58635-F光電組件遠場量測點測系統

54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器 54100致冷芯片溫度控制器 54130-27-12致冷芯片控制器 300W 54180-40-20致冷芯片控制器 800W

致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統 高速高精度 橫向、垂直和倒裝芯片 寬功率測試范圍（高達200 V/2A） 高達8英寸的晶片 Chroma巨型光電探測器