泰克TDP7704低壓差分探頭 高速串行標準中使用的差分信令需要非常準確的檢定。泰克低壓差分探頭中提供業內領xian的帶寬和信號保真度，確保您看到所有細節。泰克提供的 TriMode™ 架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！

泰克P7240低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。

泰克TAP3500低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。

泰克TAP4000低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。

泰克TAP2500低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。