致茂Chroma 52400e 高精度電源量測(cè)單元

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致茂Chroma 52400e 高精度電源量測(cè)單元

主要特色：

• PXI Express模組設(shè)計(jì) (x1 PCI Express Link)
• 2/4獨(dú)立通道(Model 52401e-7-1為四通道)
• 18-bit 量測(cè)解析度(多重檔位)
• 4象限輸出
• 6線式Force/Sense/Guard接線
• 低雜訊輸出
• DIO/觸發(fā)位元
• 可程式化硬體序列引擎-輸出
• 可編程阻抗輸出
• 16 組頻寬選擇
• 可編程輸出轉(zhuǎn)換率及高速量測(cè)(100k s/S)
• 主從控制模式
• LabView/LabWindows & C/C# API驅(qū)動(dòng)程式
• 軟體控制面板

 應(yīng)用范圍

• 半導(dǎo)體測(cè)試
• LED / LD 測(cè)試
• 電池測(cè)試
• 電晶體量測(cè)
• 太陽(yáng)能電池測(cè)試
• 電動(dòng)車測(cè)試
• 航太電子測(cè)試
• 電力電子測(cè)試
• 感應(yīng)器測(cè)試

52400e 系列SMU ( 電源量測(cè)單元; Source Measurement Unit) 為高速PXIe 模組設(shè)計(jì)，可安 裝于蕞新 PXIe 機(jī)箱。52400e SMU 是一款可進(jìn)行 高精密電壓/ 電流供應(yīng)源或負(fù)載模擬，同時(shí)又可 準(zhǔn)確量測(cè)電流/ 電壓值之綜合高精密儀器設(shè)備。

52400e系列電源量測(cè)單元具備四象限輸出功能， 不單準(zhǔn)確且具備高速量測(cè)性能。這些 特性使得電 源量測(cè)單元適合進(jìn)行準(zhǔn)確的參數(shù)量測(cè)；應(yīng)用范圍 包含: ICs, 發(fā)光二極體(LEDs), 雷射二極體(Laser Diodes), 電晶體(Transistors), 太陽(yáng)能電池( Solar cells), 鋰電池(Batteries) 以及其他半導(dǎo)體元件。

為符合各樣的量測(cè)條件，52400e 系列電源量測(cè) 單元提供16 段頻寬控制供使用者選擇穩(wěn)定的控 制回路。多重檔位加上18-bit DAC/ADC 提供了蕞 佳程式、量測(cè)解析度。取樣頻率( Sampling Rate) 達(dá)到100k s/S。 特殊可編程輸出阻抗，提供使用 者設(shè)定電池內(nèi)部串聯(lián)電阻，此特性讓52400e 系 列電源量測(cè)單元 成為理想的電池模擬器。標(biāo)準(zhǔn)六線式 (±force, ±sense and ±guards ) 接線，針 對(duì)在低電流量測(cè)應(yīng)用，如行動(dòng)裝置IC 與感應(yīng)器 測(cè)試，可防止任何漏電流(Leakage Current) 并降低量測(cè)時(shí)間 (Settling Time)， 以大幅提高 量測(cè)精度及速度。

52400e 系列電源量測(cè)單元內(nèi)建硬體時(shí)序引 擎， 使用時(shí)序(Deterministic Timing) 控制每一個(gè) 電源量測(cè)單元單元，即使未與電腦連接使用，量 測(cè)程序仍可正常執(zhí)行。記憶體于每個(gè)Channel 多可儲(chǔ)存65525 個(gè)定序指令及內(nèi)建32k 量測(cè)讀 值，可提供數(shù)個(gè)模組卡片的量測(cè)程序進(jìn)行同步， 并確保無(wú)任何輸出及量測(cè)之時(shí)間延遲。

52400e 系列電源量測(cè)單元提供 C/C# 與各種版本 的 LabView/LabWindows 應(yīng)用程式介面(APIs) 與 軟體控制面板，加上模組卡背面的接頭，提供客 戶工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 PXIe 與PXI-hybrid 系統(tǒng)，并執(zhí)行 各種測(cè)試應(yīng)用。

四象限輸出

所有Chroma 52400e 系列電源量測(cè)單元皆設(shè)計(jì)為四象限輸出 (Four-Quadrant Operation) 操作，可供應(yīng)電壓/ 電流源或模擬負(fù)載(Load Simulation)。 當(dāng)模擬負(fù)載時(shí) [Sink Mode; II、Ⅳ 象限]，基于PXIe 機(jī)箱對(duì)于每個(gè)插槽，有20W 的標(biāo)準(zhǔn)散熱限制。對(duì)高功率模組，這個(gè)散熱限制造成不對(duì)稱之象限輸出范圍。

控制頻寬選擇

為縮短測(cè)試時(shí)間， 52400e 系列電源量測(cè)單元皆設(shè)計(jì)為快速反應(yīng)，高速電壓、電流輸出。 然而待測(cè)物(DUT) 的阻抗、治具或電源線都有可能造成整個(gè)控制回路在電壓或電流輸出模式下不穩(wěn)定的潛在因素。一個(gè)不穩(wěn)定的控制回路可能造成過(guò)飽和震蕩，甚至?xí)p壞待測(cè)物。因此，使用者可能被電源量測(cè)單元制造商要求在測(cè)試治具中增加電容器，讓系統(tǒng) 重新獲得穩(wěn)定。 52400e 系列 電源量測(cè)單元 提供使用者 16 個(gè)控制頻寬選擇，此功能可免去對(duì)待測(cè)物的控制電路增加電容之困擾。此設(shè)定可作為測(cè)試程式參數(shù)的一部分，當(dāng)待測(cè)物(DUT) 改變時(shí)，頻寬選項(xiàng)的選擇也可隨測(cè)試程式做對(duì)應(yīng)之改變。

硬體序列引擎

52400e 系列 電源量測(cè)單元硬體序列引擎是功能強(qiáng)大的工具，它可以預(yù)先設(shè)定程式指令，讓儀器按步驟執(zhí)行指令。即使未與電腦連接使用，量測(cè)程序仍可執(zhí)行，同時(shí)確保輸出及量測(cè)上無(wú)任何時(shí)間延遲。以半導(dǎo)體測(cè)試為例，量測(cè)速度與時(shí)序控制非常重要，此時(shí)使用時(shí)序引擎功能即可達(dá)到蕞佳測(cè)試效能。此模式中，一旦儀器接收到觸發(fā)訊號(hào)，硬體將逐行執(zhí)行在時(shí)序表中的指令。右圖為軟體控制面板中之時(shí)序引擎設(shè)定螢?zāi)划?huà)面。

軟體控制面板

低電流量測(cè)技術(shù)

護(hù)衛(wèi)(Guarding) 的應(yīng)用在低電流(< 奈安) 量測(cè)時(shí)是一項(xiàng)很重要的技術(shù)。護(hù)衛(wèi)輸出可以避免漏電流的問(wèn)題，并降低量測(cè)穩(wěn)定時(shí)間。此輸出可以保持與 主輸出 (Force) 為同電位，如此在護(hù)衛(wèi)輸出與主輸出間不會(huì)有電流產(chǎn)生。護(hù)衛(wèi)輸出同時(shí)也消除了電源量測(cè)單元與待測(cè)體之間導(dǎo)線的電容，使得量測(cè)變得快速且準(zhǔn)確。

主從輸出模式

52400e 系列電源量測(cè)單元支援主從輸出模式(Master/Slave Operation) 當(dāng)供電壓- 測(cè)電流 (FVMI) 模式下，需要較高電流時(shí)，可發(fā)揮蕞佳彈性化應(yīng)用。 為達(dá)到模組間電流共享目的， 52400e 系列電源量測(cè)單元可支援相同型號(hào)的通道并聯(lián)，形成較高電流/ 功率模組。 電流共享是將其中一通道在供電壓- 測(cè)電流 (FVMI) 模式下設(shè)為主控單元(Master)，其他通道則需設(shè)為供電流- 測(cè)電壓 (FIMV) 模式。主控單元的輸出電壓值設(shè)為量測(cè)應(yīng)用需要的電壓值，而其電流值為其他單元在供電流- 測(cè)電壓 模式下之設(shè)定電流。右圖為在主從控制控模式下，通道并聯(lián) 方式的示意圖。

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